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俄歇电子能谱仪
Auger Electron Spectroscopy(AES)
采用电子源入射样品的表面激发出二次电子(用于形貌观察)以及俄歇电子(用于成分分析)。通过配备离子溅射枪可进行材料纵向深度分析。AES主要用于分析固体材料表面纳米深度的元素(部分化学态)成分组成,可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。既可以分析原材料(粉末颗粒,片材等)表面组成,晶粒观察,金相分布,晶间晶界偏析,又可以分析材料表面缺陷如纳米尺度的颗粒物、磨痕、污染、腐蚀、掺杂、吸附等,还具备深度剖析功能表征钝化层,包覆层,掺杂深度,纳米级多层膜层结构等。AES的分析深度4-50 Å,二次电子成像的空间分辨可达 3nm,成分分布像可达8nm,分析材料表面元素组成 (Li ~ U),是真正的纳米级表面成分分析设备。可满足合金、催化、半导体、能源电池材料、电子器件等材料和产品的分析需求。
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仪器型号:PHI 710AES
仪器能力

检测信息检测能力
常规表面定性定量分析定性定量分析固体样品表面的主要成分;信息深度:<10nm
分析固体样品表面除氢和氦以外所有元素组成 ;(Li~U)
定量分析所测得的元素的相对含量(原子百分比);检出限:0.1-1% 
多点分析,可同时对样品表面多个区域进行分析——
SEM成像分析SEM成像,表征样品表面形貌信息,高空间分辨率成像空间分辨率<3nm
Mapping分析/Line分析表征不同元素在分析区域的分布情况,从而判定成分分布的均匀性以及特定区域的成分组成等;采谱空间分辨率<8nm
深度分析深度剖析表征不同元素从表面到深度的纵向分布,可评价扩散、吸附、钝化的程度以及表征多层膜层结构等;深度分辨:纳米尺度
特殊分析项目*惰性气氛转移管,可保护电池、钙钛矿等样品避免空气和水分的影响;——
*原位液氮冷脆断装置,在真空腔室里进行原位的冷脆断,制备新鲜断面,避免样品暴露大气被氧化或吸附环境污染,用来研究金属合金材料,金相,或晶间晶界成分的分布以及研究金属断裂失效。——
*EBSD——