联系方式
周一至周五 9:00-18:00
微信公众号
微信公众号
描述
描述
飞行时间二次离子质谱仪
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry(TOF SIMS)
其基本原理是使用一次脉冲离子(液态金属离子Bi源)入射固体材料表面,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量,以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。TOF-SIMS 可以分析所有的导体,半导体,绝缘材料; 对于材料/产品表面成分及分布,表面添加组分、杂质组分、表面多层结构/镀膜成分、表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等)、表面痕量掺杂、表面改性、表面缺陷(划痕、凸起等)等有很好的表征能力。TOF-SIMS 被广泛应用于各种材料开发,材料剖析,多层薄膜/结构剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。
研发领域:半导体器件、纳米器件、生物医药、量子结构、能源电池材料等;
高新技术:高分子材料、金属、半导体、玻璃陶瓷、纳米镀层、纸张、薄膜、纤维等。
描述
仪器型号:PHI nanoTOF3
仪器能力

检测信息 检测能力
常规表面分析 定性分析固体样品表面的主要成分(元素、同位素、化学态、分子结构等);信息深度:<2nm
元素范围:H~U
成分检出限:ppb~ppm
质量范围:1~12000
高质量分辨率: 无机材料的质量分辨率(m/∆m):Si(28Si和29SiH)>12000 有机材料的质量分辨率(m/∆m):PET(104u)>12000
表征不同元素和分子结构在分析区域的分布情况,从而判定成分分布的均匀性以及特定区域的成分组成等;空间分辨率:≤50nm
深度分析 *深度剖析表征不同成分(元素和分子结构)从表面到深度的纵向分布,可评价扩散、掺杂、吸附、钝化的程度以及表征多层膜层结构等; 深度分辨:纳米尺度
*多种离子枪配置,满足不同材料的深度分析需求(无机材料——单原子Ar/Cs枪/有机材料——Ar团簇离子枪(GCIB)/陶瓷和玻璃材料等——C60团簇离子枪/)
*3D重构
特殊分析能力 *惰性气氛转移装置,可保护电池、钙钛矿等样品避免空气和水分的影响;——
*FIB制样及测试——
*冷热样品台——
*MS/MS配件,适用于分析高分子材料,对于质量数接近的大分子离子,MS1谱图难以区分,MS2可对特定例子进行诱导碰撞接力生成特征离子碎片,进一步推断大分子结构;——
*可半定量分析所测得的元素以及分子结构的相对含量(需要标准样品);成分检出限:ppb~ppm