Characterization of Graphene using XPS and REELS
本文探讨了通过XPS和反射电子能量损失谱（REELS）的结合，以提供石墨烯样品的化学和结构特性，包括样品的厚度。PHI XPS的反射电子能量损失谱（REELS）可以进一步确认石墨烯已成功制备在Si基底上。而且REELS谱峰的位置和强度与石墨烯薄膜的厚度成正比，这开启了基于能量损失光谱开发石墨烯厚度定量校准曲线的潜力。使用 PHI 的 StrataPHI 薄膜结构算法可以计算样品的石墨烯层的厚度，以及它上面的外来污染碳。
Li, C., Xu, YT., Zhao, B. et al. Flexible graphene electrothermal films made from electrochemically exfoliated graphite. J Mater Sci 51, 1043–1051 (2016). https://doi.org/10.1007/s10853-015-9434-x
本文主要报道了一种通过在钨酸钠水盐电解质中对石墨进行电化学剥离来制备石墨烯纳米片，然后通过在PET衬底上转移石墨烯纳米片获得电热薄膜。XPS用于研究石墨烯在H2 5%-Ar气流中150℃退火前后（热处理）的情况，。石墨烯纳米片的C1s XPS光谱表明，通过电化学剥离获得的石墨烯纳米片氧化程度较低。石墨烯纳米片在退火前后的官能团未发生明显变化，但是退火后C-O/C=O/O-C=O的谱峰强度降低，说明在退火过程中，石墨烯纳米片发生了有效还原。
